langer朗格爾E 1 抗干擾開發系統

langer朗格爾E 1 抗干擾開發系統

E1 抗干擾開發系統說明

       E1 抗干擾開發系統是電子研發工程師對組件進行快速瞬變脈沖群（Burst）和靜電放電（ESD）等脈沖抗干擾測試的成熟工具。利用該工具，可以對模塊進行小空間范圍內的抗干擾度分析。在對受試設備（EUT）的抗干擾分析中，能夠選擇性地給部分模塊或部分路段注入干擾電流（干擾電流路徑），以及能夠對其表面的選定區域施加電脈沖場（E 場）或磁脈沖場（H 場）正是快速、準確定位薄弱點的關鍵。另外，使用本系統還可以在施加脈沖干擾的同時，進行無反作用的光纖信號監測。

E1 干擾發射開發系統的著重點是對系統開發過程的支持。利用 E1 系統，開發人員可以在工作場地排查設備/組件的干擾問題，或者通過了解干擾問題的直接原因，測量評估修改措施的效果，增強設備/組件的抗干擾度。

E1 抗干擾開發系統不能用來進行標準兼容性測試，但是按照 IEC 61000-4-4 和 IEC 61000-4-2 標準對組件進行抗干擾的測試結果，是使用 E1 系統進行抗干擾測試的良好基礎。通用脈沖群發生器產生的標準干擾信號被耦合到輸入端，并通過地線回流到發生器。這些脈沖狀的干擾信號流過設備組件的路徑是未知的。在設備當中，未知的部分干擾信號流入某個未知的接受載體而產生功能故障。這個薄弱點的位置往往僅局限在組件上幾平方厘米的范圍內，但是通過標準測試方法很難對其定位。開發人員還不知道，是否是干擾電流及其磁場以及在什么位置導致導線回路中產生感應電壓脈沖，或者電場容性耦合進入了敏感線路。

如果設備通不過標準測試，其重要的測試結果是關于功能故障類型的詳細信息。但是僅憑借這些故障信息尚無法具體定位受試設備中的薄弱點。所以，建議先對受試設備進行標準的抗干擾測試，確定可能的故障現象，然后開發人員根據這些故障現象，在產品開發場地利用 E1 系統定位

故障點及分析故障原因，給出排除干擾問題、設計修改等解決辦法，并使用 E1 開發系統，評估各項修改措施的有效性。

借助 E1 系統，開發人員可以顯著節約產品開發時間、降低開發成本。

Langer BS 02

Langer BS 04DB 

Langer BS 05DU 

Langer BS 05D

Langer ES 00 

Langer ES 01

Langer ES 02

ES 05D

ES 08D

SGZ 21

S21

HFW 21 RF

HFA 21 RF

RF-U 5-2

MFA-K 0.1-12

Langer A100-1

langerA100-2

Langer XF-R 100-1

Langer RF-U 2.5-2

Langer F-E 05

Langer RF-E 05

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